高过载冲击下多通道采集存储系统的可靠性研究

• 作者: 卢剑平 尤文斌 张志 张瑞
• 来源期刊: 自动化与仪表
• 关键词: 采集存储系统 可靠性 加速度 相容性 ANSYS 多通道
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 创意与实践
• 页码范围: 69-72,76
• 页数: 5页
• 分类号: TP202.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.19557/j.cnki.1001-9944.2017.03.017

摘要

针对大多数炮弹性能参数测试系统存在的使用与贮存过程中性能参数逐渐退化,使用时能否经受住侵彻时高过载冲击等问题,该文提出了一种基于ANSYS的高过载冲击下测试系统可靠性设计方案.利用ANSYS进行高g值受力仿真,同时通过判断验前信息与验后信息的相容性对系统可靠性进行研究.试验表明系统稳定可靠,该方案适用于高过载冲击下测试系统的可靠性研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尤文斌	中北大学电子测试技术国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室	74	351	10.0	15.0
2	张瑞	中北大学电子测试技术国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室	29	72	5.0	8.0
3	卢剑平	中北大学电子测试技术国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室	3	16	2.0	3.0
4	张志		1	0	0.0	0.0