一种抗老化消除浮空点并自锁存的老化预测传感器

• 作者: 徐辉 易茂祥 董文祥
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 负偏置温度不稳定性 传感器 老化 浮空点 集成电路
• 年，卷（期）: 2017,（12）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与设备
• 页码范围: 944-950
• 页数: 7页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2017.12.013

摘要

随着集成电路芯片制造工艺进入纳米阶段,电路可靠性问题变得越来越严重,以负偏置温度不稳定性效应为代表的电路老化也逐渐成为影响其性能的重要因素.基于老化预测的精确性和传感器功能的多样性,提出了一种抗老化、可编程的老化预测传感器.其中稳定性检测器部分利用反馈回路解决了浮空点问题,同时整合了锁存器部分,实现了对老化预测结果的自动锁存,从而增加了老化预测的精确度,减小了一定的面积开销.最后通过HSPICE模拟器仿真验证了该传感器的优越性,且与经典结构相比降低了约21.43％的面积开销.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	易茂祥		109	559	12.0	19.0
2	徐辉	安徽理工大学计算机科学与工程学院	38	54	4.0	6.0
3	董文祥	安徽理工大学电气与信息工程学院	1	1	1.0	1.0