65nm体硅CMOS工艺抗辐射触发器单元单粒子翻转效应研究

• 作者: 周凤 岳红菊 李海松 杨博 蒋轶虎
• 来源期刊: 空间电子技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: DICE触发器 单粒子翻转 验证电路 辐照试验
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 遥感与数传
• 页码范围: 71-74,84
• 页数: 5页
• 分类号: V443
• 字数: 1677字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-7135.2017.01.016

摘要

介绍了一种采用M照试验,GEO轨道预估结果uller-C单元作为输出级的DICE结构触发器,设计了相应的单粒子翻转效应验证电路,以及单粒子效应试验软、硬件系统来对加固效果进行验证.利用北京HI-13加速器进行了Cl、Ti、Cu、Br、I和Au等多种重离子辐照试验,GEO轨道预估结果表明DICE结构触发器单粒子翻转率(2.37×10-10 upsets/bit/day)明显小于普通结构触发器单粒子翻转率(2.15×10-8upsets/bit/day),该单粒子翻转效应验证电路及试验系统取得了预期的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李海松		9	106	3.0	9.0
2	岳红菊		4	13	2.0	3.0
3	蒋轶虎		2	0	0.0	0.0
4	杨博		2	0	0.0	0.0
5	周凤		1	0	0.0	0.0