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摘要:
近日,在美国空军科学研究实验室资助下,美国伊利诺伊大学厄巴纳一香槟分校(UIUC)宣布研制出先进的硅基氮化镓晶体管技术,在其微纳米技术实验室实现了200mm硅晶圆上制造出高电子迁移率晶体管(HEMT),若在工业界可能实现更大的晶圆尺寸。
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文献信息
篇名 美国伊利诺伊大学厄巴纳-香槟分校在200mm硅晶圆上制造出GaN高电子迁移率晶体管
来源期刊 半导体信息 学科 工学
关键词 高电子迁移率晶体管 美国空军 硅晶圆 制造 香槟 大学 GAN 微纳米技术
年,卷(期) bdtxx_2017,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 8-9
页数 2页 分类号 TN32
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研究主题发展历程
节点文献
高电子迁移率晶体管
美国空军
硅晶圆
制造
香槟
大学
GAN
微纳米技术
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体信息
双月刊
16开
南京市1601信箱43分箱(南京市中山东
1990
chi
出版文献量(篇)
5953
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11
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