基于最小二乘法的氦质谱非真空累积检漏方法研究

• 作者: 任国华 孙立臣 洪晓鹏 王勇 綦磊
• 来源期刊: 真空与低温
• 学科: 工学
• 关键词: 航天器 氦质谱检漏 非真空累积 最小二乘法
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 154-157
• 页数: 4页
• 分类号: TB42
• 字数: 1595字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7086.2017.03.006

摘要

航天器的密封性能测试分为部组件级测试和系统级测试.系统级密封性能测试大多采取氦质谱非真空累积检漏法,由于收集室内氦气浓度分布不均匀,检漏仪读数不稳定,漏率初值或终值的读取可能不准确,进而造成测量误差.提出一种基于最小二乘法拟合的氦质谱非真空累积检漏方法,在非真空累积过程中,多次读取收集室内漏率值,并利用最小二乘法对漏率变化率进行拟合,进而求出被检件漏率.大量试验结果表明,与传统的氦质谱非真空累积检漏法相比,该方法可有效避免单次数据测量造成的测量误差,具有更高的数据可信度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	洪晓鹏		11	23	4.0	4.0
2	孙立臣		68	159	6.0	9.0
3	任国华		18	32	3.0	5.0
4	綦磊		19	21	3.0	4.0
5	王勇		24	85	6.0	8.0