低温烧结制度对ZnO-Bi2O3基压敏陶瓷显微结构与电性能的影响

• 作者: Matejka Podlogar Slavko Bernik 李国荣 程丽红 郑嘹赢
• 来源期刊: 陶瓷学报
• 学科: 工学
• 关键词: ZnO 压敏 显微结构 电性能
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与探索
• 页码范围: 660-664
• 页数: 5页
• 分类号: TQ174.75
• 字数: 2947字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13957/j.cnki.tcxb.2017.05.012

摘要

采用传统电子陶瓷的制备工艺,制备了相同Bi2O3含量、Sb2O3/Bi2O3比分别为0.25、0.50的ZnO-Bi2O3基压敏陶瓷,研究在800 ℃-950 ℃区间内一步烧结与两步烧结制度对陶瓷的显微结构与电性能的影响.显微结构分析表明,烧结过程中足够的Bi2O3液相有利于烧结,而且能够促进晶粒内含反演边界(Inversion Boundary)的ZnO晶粒的长大.烧成的样品具有发育良好的显微结构:高的致密度、均匀的含Bi第二相分布以及粒径,而且电性能良好:压敏电压327-670 V/mm,非线性系数20-31,漏电流低于0.5 μA.Sb2O3含量较高的样品,晶粒尺寸较小,压敏电压和非线性系数较大,漏电流较小.研究还发现,ZnO晶粒尺寸以受两步烧结制度里占主要的烧结过程的影响为主.研究结果表明:与传统的1000 ℃以上烧结相比,合理的配方是保证在800 ℃-950 ℃区间内烧结获得综合性能良好的压敏陶瓷样品的关键.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李国荣	中国科学院上海硅酸盐研究所	49	676	14.0	24.0
2	郑嘹赢	中国科学院上海硅酸盐研究所	16	109	6.0	10.0
3	程丽红		6	18	3.0	4.0