平面近场测试中截断误差的分析

• 作者: 王涵 荣大伟 陈玉林
• 来源期刊: 空间电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 误差分析 超低副瓣天线测试 截断误差 实际测试
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 空间天线
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: TN820
• 字数: 1502字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-7135.2017.01.009

摘要

截断误差作为平面近场测试中几大重要误差项之一,对其的分析是十分必要的.分别从计算机仿真和实际测试的角度对截断误差对远场副瓣的影响进行了分析.此次分析方式结合天线方向图的特点,从全域角度对误差进行评估,结果更为可靠和精确,并得到了一些有用的规律和结果,为超低副瓣天线测试中误差的分析提供一定依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王涵		9	4	1.0	1.0
2	陈玉林		4	1	1.0	1.0
3	荣大伟		3	1	1.0	1.0