“牵星”法:一种基于射频指纹的高频RFID克隆卡检测方法

• 作者: 夏鲁宁 嵇亚飞 张国柱 贾世杰
• 来源期刊: 信息安全学报
• 学科: 工学
• 关键词: 射频指纹 射频识别 物理层 克隆攻击 安全
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 页码范围: 33-47
• 页数: 15页
• 分类号: TP309.1
• 字数: 14780字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19363/j.cnki.cn10-1380/tn.2017.04.004

摘要

射频识别(RFID)技术已在社会各领域得到了广泛应用,如门禁系统、银行卡、居民身份证等.与此同时,不断出现的RFID克隆卡时刻威胁着RFID应用系统的安全.尽管目前已提出了多种安全机制,如基于密码学的认证协议,并假设“密钥不出卡”,但在侧信道分析等新型攻击手段下,这类安全机制被绕过的风险显著增加.此外,大量RFID卡的应用诸如门禁系统等并不使用密码技术,使RFID卡被克隆的风险更大.本文提出了一种基于物理层特性的射频指纹识别方法一“牵星”法,使高频RFID卡与其唯一且不可克隆的射频特征紧密绑定,从而有效检测高频RFID克隆卡.我们对来自同厂家、同型号、同批次的120张高频RFID卡进行了测试,识别精度可达等错误率EER=2.5％.本方法可直接用于所有基于ISO14443 Type A协议的高频RFID克隆卡检测.同时,由于该方法是对设备的射频指纹进行后期处理,因此也支持其它标准定义的RFID克隆卡的检测.该识别系统仅由一个天线、一个读卡器和一个示波器组成,是现有高频RFID卡识别系统中所需测量设备最少的一种.