基于新型硬件闭环法的晶体管击穿电压和漏电流测试

• 作者: 曹玉峰
• 来源期刊: 计量技术
• 关键词: 硬件闭环 击穿电压 漏电流测试
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 测量与设备
• 页码范围: 28-30
• 页数: 3页
• 字数: 1638字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2017.07.08

摘要

针对半导体分立器件击穿电压和漏电流的测试,提出了一种新型的硬件闭环电路测试方法.这种新型的硬件闭环电路具有简单、实用、易于实现、适应性强且成本很低等特点,既可用于测试击穿电压、也可用于测试漏电流.该硬件闭环电路通过自身的限流功能实现了短路等异常情况的硬件电路保护,可广泛的应用到半导体分立器件自动测试领域.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹玉峰		2	0	0.0	0.0