低压成套开关设备的全寿命周期成本评估

• 作者: 王丽 王景芹 蔚德申
• 来源期刊: 燕山大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 灰色系统理论 低压成套开关设备 全寿命周期成本 LabVIEW
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 电气工程
• 页码范围: 539-544,549
• 页数: 7页
• 分类号: TM591
• 字数: 3863字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-791X.2017.06.010

摘要

为了提高低压成套开关设备的维护效率和寿命周期的利用率,本文运用灰色系统理论提出了低压成套开关设备的全寿命周期成本评估模型.将设备的全寿命周期成本分解为一次性投资成本和维修检修成本,考虑到维修检修费用的不确定性,运用GM(1,1)模型对维修检修成本的分布类型进行了拟合,最终建立了设备的全寿命周期成本评估模型.在LabVIEW中编程并运行程序,计算得到了低压成套开关设备的最优使用寿命.根据该最优使用寿命对设备制定完善的维护与检修计划,既可以保证维修的及时性又可以避免不必要的维修.因此,可以得到低压成套开关设备最小的寿命周期成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王景芹	河北工业大学电磁场与可靠性省部共建重点实验室	117	645	13.0	20.0
2	王丽	河北工业大学电磁场与可靠性省部共建重点实验室	43	164	7.0	11.0
3	蔚德申	河北工业大学电磁场与可靠性省部共建重点实验室	4	6	2.0	2.0