Y波导调制器残余强度调制的测量

• 作者: 姚天龙 杨德伟 翁苍杰 赵艳 郑月
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 集成光学 Y波导调制器 残余强度调制 光纤陀螺
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 光电器件
• 页码范围: 194-198
• 页数: 5页
• 分类号: TN252
• 语种: 中文
• DOI: 10.16818/j.issn1001-5868.2017.02.008

摘要

为了便于分析Y波导调制器残余强度调制的产生机理,提出一种Y波导调制器残余强度调制的测试方法.系统采用Spartan-6系列的FPGA作为主控芯片,控制模数转换芯片ADS5560对经光电转换后的调制光信号进行采集,将采集到的数据打包后通过UART通信模式发送至PC机,获取Y波导调制器残余强度调制大小及波形信息.根据残余强度调制大小和波形信息分析模场改变引起的线性和杂散光与输出光的干涉两种机理产生的残余强度调制所占比例.测试结果表明,系统稳定性良好,对于Y波导调制器的开发有重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑月	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院	7	7	1.0	2.0
2	杨德伟	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院	30	126	7.0	9.0
3	赵艳	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院	6	10	2.0	2.0
4	姚天龙	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院	5	4	1.0	1.0
5	翁苍杰	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院	3	4	1.0	1.0