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摘要:
基于X射线激光脉冲短、单色性好、能量高而且相干程度高的优点,本文从理论上提出X射线激光干涉用于对晶体结构及缺陷的测量.由于X射线激光波长量级为10-10m,因此可实现高精密测量.此外,本文给出了X射线激光测量晶体的装置、缺陷晶体的测量模型和晶体参量的测量模型.
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文献信息
篇名 X射线激光干涉对晶体精密测量
来源期刊 光散射学报 学科 物理学
关键词 X射线激光 干涉 精密测量 模型
年,卷(期) 2017,(4) 所属期刊栏目 其它光谱技术及应用
研究方向 页码范围 372-375
页数 4页 分类号 O43
字数 2047字 语种 中文
DOI 10.13883/j.issn1004-5929.201704015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张超 浙江大学地球科学学院 62 962 14.0 30.0
2 茆慧玲 浙江大学物理系 2 6 1.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
X射线激光
干涉
精密测量
模型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光散射学报
季刊
1004-5929
51-1395/O4
大16开
成都市四川大学物理科学与技术学院
1988
chi
出版文献量(篇)
1525
总下载数(次)
3
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