升温速率对Au纳米线熔断特性和熔断时间的影响

• 作者: 任蕾 张弦 李凯文 李贻丹 胡雪晨 高廷红
• 来源期刊: 现代物理
• 学科: 经济
• 关键词: 熔断特性 熔断时间 分子动力学模拟 Au纳米线
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 页码范围: 190-196
• 页数: 7页
• 分类号: F2

摘要

由于熔断器在高精密仪器设备中的重要地位,其研制设计已成为研究重点。Au纳米线作为现今备受关注的高精度熔断器材料之一,传统的试制研究将会浪费大量财力和人力,采用分子动力学模拟方法,从微观结构层次研究熔断器熔断特性的影响因素具有重要意义。本文基于分子动力学模拟方法,模拟研究不同升温速率对Au纳米线熔断特性和熔断时间的影响。结果表明:Au纳米线在一定范围内升温速率越大,熔断时间越短,熔断温度越高。不同升温速率对熔断位置没有明显影响,但对熔断过程中缩颈长短有显著影响。升温速率较低时,缩颈部分较长,使得熔断后的断面呈链状,升温速率较高时,缩颈部分较短,使得熔断后的断面呈锥形。该模拟方法可以有效地跟踪熔断过程中结构的变化情况,进而指导不同应用场景的Au纳米线高精度熔断器的研制和设计。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高廷红	贵州大学新型光电子材料与技术研究所	14	35	3.0	5.0
2	张弦	贵州大学新型光电子材料与技术研究所	3	0	0.0	0.0
3	胡雪晨	贵州大学新型光电子材料与技术研究所	3	0	0.0	0.0
4	李贻丹	贵州大学新型光电子材料与技术研究所	2	0	0.0	0.0
5	任蕾	贵州大学新型光电子材料与技术研究所	5	2	1.0	1.0
6	李凯文	贵州大学新型光电子材料与技术研究所	1	0	0.0	0.0