CMOS图像传感器辐射损伤研究

• 作者: 邹旸 黄景昊
• 来源期刊: 湖南理工学院学报（自然科学版）
• 关键词: CMOS图像传感器 辐照实验 辐射损伤
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 页码范围: 44-49
• 页数: 6页
• 分类号: TN29
• 语种: 中文

摘要

考虑γ射线辐射场对视频监控系统中CMOS图像传感器的辐照失效损伤,通过机理分析与辐照实验,研究图像传感器的辐射损伤效应以及对其性能参数的影响.设计辐照实验,选用同种工艺不同厂商生产的几类CMOS图像传感器,研究γ射线对CMOS图像传感器的损伤效应.实验结果表明,γ射线总剂量效应导致暗电流增大,从而使像素灰度值增大;γ射线瞬态电离效应在CMOS图像传感器像素阵列中形成雪花状的随机正向脉冲颗粒噪声,噪点的数量与剂量率相关;彩色图像受到入射γ光子的干扰相较于暗图像较弱;并且当累积剂量低于88.4Gy,剂量率低于58.3Gy/h时,不会产生坏点;光照充足时γ射线电离辐射对传感器分辨率、色度及暗电流的影响并不明显.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄景昊	海南核电有限公司设备管理处	2	1	1.0	1.0