基于Virtex4FPGA的全覆盖二倍线内建自测试

• 作者: 李光 董宜平 谢文虎
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: XDL 内建自测试 测试向量 全局布线 二倍线
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 19-23
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 2427字
• 语种: 中文

摘要

随着集成电路技术的发展,高集成度和高复杂度的器件不断出现,大规模集成电路的测试技术成为重要的研究方向.自建内测试方法是一种有效的系统级大规模集成电路FPGA测试方法.提出了一种基于Xilinx公司Virtex-4 (V4)系列芯片全覆盖的FPGA二倍线内建自测试方法,该方法采用脚本生成Xilinx设计语言(XDL),对V4芯片二倍线进行全局布线,然后进行FPGA配置,施加测试向量,从而对固定故障或者桥接故障进行测试.同时给出了基于XC4VLX100芯片的实际测试结果,验证了该测试方法的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董宜平		9	12	2.0	3.0
2	李光		16	20	3.0	4.0
3	谢文虎		4	8	2.0	2.0