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摘要:
作者从原理出发,结合实际开发的产品,由浅入深,提供了微电容检测和Q值测试方案,以及如何实现自动化测试.测试不仅能够检查裸芯片的性能是否符合要求,提前筛除不合格的产品,还能监视工艺的变化而可能导致的参数变化.
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文献信息
篇名 微电子机械MEMS陀螺仪的原理和测试方法研究
来源期刊 集成电路应用 学科 工学
关键词 微电子机械系统 MEMS 陀螺仪 微电容检测 Q值测试
年,卷(期) 2017,(5) 所属期刊栏目 工艺与制造
研究方向 页码范围 72-77
页数 6页 分类号 TN407
字数 4301字 语种 中文
DOI 10.19339/j.issn.1674-2583.2017.05.017
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
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研究主题发展历程
节点文献
微电子机械系统
MEMS
陀螺仪
微电容检测
Q值测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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