平面近场测试中误差的分析

• 作者: 李辉煌 陈玉林
• 来源期刊: 航天电子对抗
• 学科: 工学
• 关键词: 平面近场测试 误差分析 超低副瓣天线
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 所属期刊栏目: 工程应用
• 页码范围: 51-53
• 页数: 3页
• 分类号: TN971|TN965+.2
• 字数: 2135字
• 语种: 中文

摘要

首先介绍了暗室中主要的误差项,然后通过实际测试的方式,分析了其中四项误差对超低副瓣天线-50dB副瓣的不确定度.结果对超低副瓣天线副瓣的误差分析有一定的参考意义,有助于天线设计师了解超低副瓣天线测试中误差项对副瓣的影响量级.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈玉林		4	1	1.0	1.0
2	李辉煌		1	0	0.0	0.0