缺陷无意识的CMOL单元容错映射

• 作者: 储著飞 夏银水 陈定亨
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米混合电路 缺陷无意识 容错映射 最小逻辑单元 进化算法
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 2133-2139
• 页数: 7页
• 分类号: TP391.41
• 字数: 6364字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-9775.2017.11.020

摘要

针对CMOS/纳米混合电路(CMOL)中器件高缺陷率的问题,提出一种基于无缺陷单元区域提取的缺陷无意识容错映射方法.首先采用最小逻辑单元和纳米二极管协同检测加速提取出CMOL阵列中无缺陷单元所在区域;然后采用进化算法进行无缺陷区域的CMOL单元映射,通过设计选择策略、适值函数以及精英策略模拟生物进化的过程对解进行全局搜索改进解的质量.实验结果表明,该方法在求解速度和线长上有较大的提升.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏银水	宁波大学信息科学与工程学院	101	345	9.0	13.0
2	储著飞	宁波大学信息科学与工程学院	21	34	4.0	4.0
3	陈定亨	宁波大学信息科学与工程学院	2	2	1.0	1.0