运放电路在测试系统中的应用

• 作者: 吴熙文 王金萍
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 硬件测试 运算放大器 电压跟随器 电压比较器
• 年，卷（期）: 2017,（12）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 18-22
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 2454字
• 语种: 中文

摘要

硬件芯片的功能、可靠性和稳定性至关重要,使得硬件测试越来越受到重视.在测试过程中为提高测试的精度和稳定性,会在测试芯片外围电路的基础上根据不同芯片的测试难点增加测试辅助电路,运放电路是其中较为常见的测试辅助电路.根据各运放电路的特点与功能,分别描述和研究了在遇到测试难点时运算放大器、电压跟随器和电压比较器在测试系统中的应用,从而有效提高了测试精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴熙文	中国电子科技集团公司第五十八研究所	4	6	2.0	2.0
2	王金萍	中国电子科技集团公司第五十八研究所	1	3	1.0	1.0