IC测试插座选型与技术要求

• 作者: 吴波 宋国栋
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: IC测试插座 选型
• 年，卷（期）: 2017,（12）
• 所属期刊栏目: 通用测试
• 页码范围: 12-14
• 页数: 3页
• 分类号: TN405|TM503+.5
• 语种: 中文

摘要

对于IC电路测试而言,测试插座不可缺少,测试插座的质量直接关系到测试指标的准确性,该文简单介绍了测试插座的基本知识,详细介绍了插座材料的特性以及选型的技术要点,并给出了测试对比的结果,希望对IC测试工程师插座选型有一定的参考意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋国栋		6	3	1.0	1.0
2	吴波		11	17	2.0	4.0