电子辐照聚酰亚胺薄膜力学性能退化研究

• 作者: 周亦人 沈自才 牟永强 邱小林
• 来源期刊: 真空与低温
• 学科: 航空航天
• 关键词: 电子 辐照 聚酰亚胺 力学性能
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 82-86
• 页数: 5页
• 分类号: V25
• 字数: 2346字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7086.2017.02.004

摘要

利用北京卫星环境工程研究所的空间综合辐照实验设备对聚酰亚胺(PI)薄膜空间电子辐射环境下的力学性能变化进行了研究,探讨了不同电子通量、电子注量和实验温度对聚酰亚胺薄膜力学性能的影响.研究发现,在相同通量下,随着辐照注量的增加,PI薄膜的拉力、抗拉强度和断裂伸长率先增加而后呈指数规律降低;在相同注量下,随着辐照通量的增加,拉力、抗拉强度逐渐增加,而断裂伸长率先减小再增大;在相同辐照注量下,随着温度的升高,薄膜的拉力、抗拉强度和断裂伸长率均增加.最后对电子辐照聚酰亚胺薄膜的力学性能退化机理进行了初步分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈自才		57	347	11.0	16.0
2	邱小林		43	373	12.0	18.0
3	牟永强		16	142	6.0	11.0
4	周亦人		10	7	1.0	2.0