低压变频器功率单元温度波动问题研究

• 作者: 万健如 孙彦虎 高成海
• 来源期刊: 电源学报
• 学科: 工学
• 关键词: 变频器 功率单元 温度波动 寿命 低输出频率
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 页码范围: 99-104
• 页数: 6页
• 分类号: TM464
• 字数: 3837字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13234/j.issn.2095-2805.2017.1.99

摘要

为了更好地在设计和运行中使强迫风冷式低压变频器和负荷相匹配，针对影响变频器寿命的 IGBT芯片的温度波动问题，在变频器功率模块热路模型基础上运用非稳态传热理论研究。结合脉宽调制特点讨论典型功耗热源的产生和计算，以及周期负荷对功率模块其他部件和芯片的不同热效应及计算。基于热膨胀原理研究芯片温度波动与变频器寿命的关系。通过研究得出温度波动与功耗脉冲周期的关系，以及作为温度波动的主要影响区段，在变频器低输出频率区间如何计算以实施降低输出电流、开关频率等应对温度波动的措施。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	万健如	天津大学电气与自动化工程学院	132	1233	20.0	28.0
2	高成海	天津大学电气与自动化工程学院	4	9	3.0	3.0
3	孙彦虎		1	3	1.0	1.0