基于V93000 ATE的大电流测试方法研究

• 作者: 王建超 赵桦
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 测试技术 ATE 大电流
• 年，卷（期）: 2017,（12）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 14-17
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 1835字
• 语种: 中文

摘要

在当今超大规模集成电路的设计中,特别是在系统芯片SOC设计中,大电流电路已经非常普遍.实现对大电流电路的测试是集成电路测试中一个十分重要的内容.V93000集成电路测试系统是一款可扩展型平台,它集合了数字测试、模拟测试和射频测量等资源.通用性的电源供电资源可实现最大到100 A的电流测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵桦	中国电子科技集团公司第五十八研究所	6	14	3.0	3.0
2	王建超	中国电子科技集团公司第五十八研究所	6	8	2.0	2.0