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摘要:
BGA焊点的开裂现象,有十几种之多,失效的机理不同,形成的裂纹形貌特征也不同.将介绍一种布局在PCB的底面、在PCBA第二次焊接后看到的开裂现象.
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BGA 再流焊技术
电子器件
BGA
封装
再流焊
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 BGA双面再流焊开裂焊点裂纹特征和形成机理及控制
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 BGA 双面再流焊 开裂 焊点裂纹 机理及控制
年,卷(期) 2017,(3) 所属期刊栏目 电子组装疑难工艺问题解析
研究方向 页码范围 184-186
页数 3页 分类号 TN605
字数 1612字 语种 中文
DOI 10.14176/j.issn.1001-3474.2017.03.018
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 贾忠中 23 31 4.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
BGA
双面再流焊
开裂
焊点裂纹
机理及控制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
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10
总被引数(次)
14508
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