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BGA双面再流焊开裂焊点裂纹特征和形成机理及控制
BGA双面再流焊开裂焊点裂纹特征和形成机理及控制
作者:
贾忠中
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
BGA
双面再流焊
开裂
焊点裂纹
机理及控制
摘要:
BGA焊点的开裂现象,有十几种之多,失效的机理不同,形成的裂纹形貌特征也不同.将介绍一种布局在PCB的底面、在PCBA第二次焊接后看到的开裂现象.
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期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
BGA双面再流焊开裂焊点裂纹特征和形成机理及控制
来源期刊
电子工艺技术
学科
工学
关键词
BGA
双面再流焊
开裂
焊点裂纹
机理及控制
年,卷(期)
2017,(3)
所属期刊栏目
电子组装疑难工艺问题解析
研究方向
页码范围
184-186
页数
3页
分类号
TN605
字数
1612字
语种
中文
DOI
10.14176/j.issn.1001-3474.2017.03.018
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
贾忠中
23
31
4.0
4.0
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研究主题发展历程
节点文献
BGA
双面再流焊
开裂
焊点裂纹
机理及控制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第二研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1001-3474
CN:
14-1136/TN
开本:
大16开
出版地:
太原市115信箱
邮发代号:
22-52
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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