自动测试系统通用测试平台技术研究

• 作者: 刘毅 周靖宇 夏磊
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 自动测试系统 通用测试平台 二次开发
• 年，卷（期）: 2017,（12）
• 所属期刊栏目: 网络与信息工程
• 页码范围: 76-77,63
• 页数: 3页
• 字数: 2065字
• 语种: 中文

摘要

随着电子设备测试需求的增高,越来越多的自动测试系统投入到实际应用中,由此带来了多种电子设备测试系统兼容的问题,并造成了一定的资源浪费,因此需要有一种通用的自动测试系统通用测试平台来解决这种问题.本文通过对国外自动测试系统典型通用测试平台的研究提出了一种可灵活二次开发自动测试系统通用平台设计思想,并在某型号航电设备测试系统中得到了较好的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏磊	中国电子科技集团公司第四十一研究所	7	14	2.0	3.0
2	刘毅	中国电子科技集团公司第四十一研究所	9	24	4.0	4.0
3	周靖宇	中国电子科技集团公司第四十一研究所	3	10	1.0	3.0