基板非圆过孔的信号完整性和电源完整性研究

• 作者: 刘卫东 刘琦 王昕捷 陈兴隆
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 芯片封装 过孔 电源完整性 信号完整性
• 年，卷（期）: 2017,（12）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TN405.97
• 字数: 2802字
• 语种: 中文

摘要

随着科技的发展,半导体芯片的电源电压越来越小,电流越来越大,信号速度越来越高,从而导致电源完整性和信号完整性问题日益突出.对于一个电子系统来说,其电源完整性问题和互连的信号完整性问题来源包括芯片晶圆、封装、连接器、背板等,封装的电源完整性问题和信号完整性问题必须引起足够的重视.基板类封装中,过孔作为信号网络不同层之间的连接通道,其设计不当往往会造成严重的电源完整性问题和信号完整性问题.针对一种非圆形过孔应用于基板的电源完整性和信号完整性进行了研究,并对应用背景以及使用圆形过孔对其等效进行了探讨.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王昕捷		2	2	1.0	1.0
2	刘琦		1	2	1.0	1.0
3	刘卫东		1	2	1.0	1.0
4	陈兴隆		1	2	1.0	1.0