测定首饰中金属覆盖层厚度的不确定度评定-X射线荧光光谱法

• 作者: 王燕 赵敏 黎刚
• 来源期刊: 现代测量与实验室管理
• 学科: 化学
• 关键词: XRF 金属覆盖层厚度 测量不确定度
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 计量测试
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: O657.3
• 字数: 2101字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16428/j.cnki.cn10-1469/tb.2017.02.013

摘要

在首饰行业中,当金属覆盖层与基体材料不同时,使用X射线荧光光谱法(本文简称XRF)[1]可以对多层金属覆盖层进行材料分析并测试其覆盖层的线性厚度.本文对测试首饰中金属覆盖层的厚度过程进行不确定度评定,分析不确定度来源,对各个分量进行合成和扩展,最终给出评定的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵敏	深圳市周大福珠宝制造有限公司贵金属检测中心	3	1	1.0	1.0
2	王燕	深圳市周大福珠宝制造有限公司贵金属检测中心	2	1	1.0	1.0
3	黎刚	深圳市周大福珠宝制造有限公司贵金属检测中心	1	0	0.0	0.0