高速永磁电机扁铜线绕组交流铜耗研究

• 作者: 冯桂宏 刘云飞 张炳义 李巧珊
• 来源期刊: 机电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 高速永磁电机 扁铜线 交流铜耗 趋肤效应 邻近效应
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 电工技术
• 页码范围: 1032-1037
• 页数: 6页
• 分类号: TM303
• 字数: 3797字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4551.2017.09.016

摘要

针对高压高速永磁电机扁铜线绕组中的高频电流产生的趋肤效应和邻近效应问题,为了解决扁铜线绕组高频下产生过大的涡流铜耗,对影响高频下扁铜线绕组交流铜耗的因素进行了分析.采用2D有限元的方法,根据扁铜线的实际尺寸,在有限元软件中建立了扁铜线导体的模型,对扁铜线绕组高频下的交流铜耗进行研究,分析了额定电流频率、变频器载波比、槽口风道高度、导体尺寸和位置、并绕根数对绕组交流铜耗的影响,并且总结了扁铜线绕组在不同频率下的最佳宽厚比.研究结果表明:通过合理地选择槽口高度、扁铜线的尺寸、并绕根数会明显降低绕组的交流铜耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张炳义	沈阳工业大学电气工程学院	78	334	9.0	15.0
2	冯桂宏	沈阳工业大学电气工程学院	67	366	10.0	17.0
3	李巧珊	沈阳工业大学电气工程学院	2	8	2.0	2.0
4	刘云飞	沈阳工业大学电气工程学院	1	4	1.0	1.0