盐雾条件下染污绝缘子交流污闪特性

• 作者: 孟志高 李源军 蒋兴良 郭裕钧 高标
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 雾水电导率 附加盐密 污染 交流闪络特性 盐雾
• 年，卷（期）: 2017,（13）
• 所属期刊栏目: 高电压与绝缘
• 页码范围: 248-254,270
• 页数: 8页
• 分类号: TM852
• 字数: 4397字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.151720

摘要

染污绝缘子表面污秽在盐雾中吸湿受潮,雾中的盐分沉积在绝缘子表面增大了其表面电导率,使得绝缘子闪络特性降低,绝缘子可能在较低电压甚至工作电压下发生闪络,威胁电网的安全稳定运行.本文对瓷、玻璃、复合三种典型绝缘子在不同盐密(SDD)和雾水电导率(γ20)下的交流闪络特性进行试验研究,提出附加盐密(ASDD)的概念,分析了附加盐密与绝缘子表面盐密和雾水电导率的关系及其对交流闪络特性的影响.结果表明:随着盐密和雾水电导率的增大绝缘子交流雾闪电压均降低,且与盐密呈负幂指数关系,与雾水电导率呈线性关系.可以用附加盐密表征雾水电导率和盐密对绝缘子雾闪电压的综合影响,即附加盐密与雾水电导率和绝缘子盐密之积成正比.同时绝缘子闪络电压与绝缘子表面盐密和附加盐密之和呈负幂指数关系,绝缘子雾闪的本质是一种特殊的污秽闪络.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李源军		1	0	0.0	0.0
2	高标		1	0	0.0	0.0