二代YBCO带材接头电学性能低温实验研究

• 作者: 何升 冯汉升 刘恒 庄明
• 来源期刊: 低温与超导
• 关键词: 电流转移 接触电阻 临界电流 焊接面
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 所属期刊栏目: 超导技术
• 页码范围: 43-46,87
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16711/j.1001-7100.2017.10.009

摘要

针对第二代YBCO高温超导带材接头进行相关电学性能测试,根据对YBCO带材与其他材料焊接接头模型进行电流转移分析,得出接头电阻与YBCO焊接面的电阻率、焊料种类有关.再进行YBCO带材临界电流测试,YBCO二层叠临界电流测试,YBCO带材不同搭接方式的临界电流以及接触电阻测试和不同焊料对YBCO带材接触电阻影响的实验,实验得出YBCO带材的接触电阻与焊料的选择无关,与焊接面有关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯汉升	中国科学院合肥物质科学研究院	16	37	4.0	5.0
2	庄明	中国科学院合肥物质科学研究院	47	131	7.0	8.0
3	刘恒	中国科学院合肥物质科学研究院	17	354	5.0	17.0
4	何升	中国科学院合肥物质科学研究院	3	0	0.0	0.0