K值法测定工业硅粉中二氧化硅的含量

• 作者: 胡耀东 高珺
• 来源期刊: 云南冶金
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线衍射 K值法 工业硅粉 二氧化硅
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 检测技术
• 页码范围: 48-51
• 页数: 4页
• 分类号: O434.19
• 字数: 1919字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-0308.2017.06.012

摘要

采用X射线K值法测定工业硅粉中二氧化硅的含量,结果表明,使用X射线K值法对工业硅粉中二氧化硅进行定量相分析,可计算得出工业硅粉中二氧化硅的含量,能对工业硅粉中硅石掺假现象进行监督防治,是一种切实有效的检测方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高珺		1	2	1.0	1.0
2	胡耀东		3	38	2.0	3.0