基于扫描链修改的低功耗测试方案

• 作者: 商进 张培明 李晓龙
• 来源期刊: 黑龙江大学工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描链 测试向量重排序 遗传算法 低功耗测试
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 页码范围: 45-48
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.46
• 字数: 2779字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19352/j.cnki.issn1671-4679.2017.02.010

摘要

芯片测试过程中存在的高功耗问题是制约芯片测试发展的难题,针对此问题,提出一种新的低功耗测试方法.该方法通过插入异或门,将扫描链中的部分D触发器用T触发器代替,同时采用遗传算法对测试结构进行修改和测试向量重排序,为了保证故障覆盖率和故障仿真的正确性,对测试数据进行转换,从而降低由于节点电压跳变所导致的电平翻转次数,达到降低测试功耗的目的.根据部分ISCSAS 89基准电路的实验结果表明:该方法符合预期目标,平均功耗相对于未采用该方法前降低51.26%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张培明	黑龙江工程学院电气与信息工程学院	6	4	1.0	2.0
2	商进	无锡职业技术学院控制技术学院	6	2	1.0	1.0
3	李晓龙	黑龙江工程学院电气与信息工程学院	3	0	0.0	0.0