非理想校准件对S参数测量结果的影响

• 作者: 周永刚 王敏 赵永久 金雨旻
• 来源期刊: 微波学报
• 关键词: 四端口矢量网络分析仪 散射参数 不确定度 TRL校准
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 82-85
• 页数: 4页
• 语种: 中文
• DOI: 10.14183/j.cnki.1005-6122.201701018

摘要

TRL校准方法是矢量网络分析仪(Vector Network Analyzer,VNA)校准的常用方法之一,它通过对直通件、反射件和传输线3个标准件的测量,经过一系列计算获取各误差项的值.但是在实际测量中,这些校准件并不能在整个频带范围内具有理想的特性,从而在实际测量时会引起被测件S参数的测量不确定度.对于使用日益广泛的多端口VNA而言,测量不确定度的分析比二端口VNA更为复杂,目前对其开展的研究还不够广泛深入.文章以四端口VNA为例,对TRL校准过程中由非理想标准件引起的被测件的S参数测量不确定度进行研究.首先,运用广义节点的思想将四端口VNA的S参数测量不确定度用矩阵形式表示,再运用广义TRL校准方法,求得各误差项及其偏移的值,最终求得灵敏度系数的解析式,它可以对四端口VNA进行S参数测量不确定度的B类评估.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周永刚	南京航空航天大学电子信息工程学院	15	44	3.0	5.0
2	赵永久	南京航空航天大学电子信息工程学院	18	70	5.0	7.0
3	王敏	南京航空航天大学电子信息工程学院	30	118	6.0	8.0
4	金雨旻	南京航空航天大学电子信息工程学院	1	3	1.0	1.0