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摘要:
锡球拾放技术是BGA植球的关键技术,真空植球技术适用于BGA芯片或基板植球.真空植球法易发生丢球和锡球被压变形两种植球缺陷.因此有必要对真空植球法关键技术进行分析和改进,以改善植球质量.丢球主要发生在锡球吸取过程,分析吸球过程,为真空植球头的功率设计给出了参考.锡球被压变形发生在植球过程,根据植球时锡球的受力情况,给出了锡球极限压力的计算方法.在此基础上,针对植球缺陷提出一种新的植球压力实时压力控制方案,提升植球良率.在自主研制的BGA植球机上实验并得到了预期效果.
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文献信息
篇名 BGA植球机真空植球法研究
来源期刊 电子科技 学科 工学
关键词 BGA封装 真空植球法 植球缺陷 植球压力
年,卷(期) 2017,(1) 所属期刊栏目 光电·材料
研究方向 页码范围 5-8
页数 4页 分类号 TN305.94
字数 2772字 语种 中文
DOI 10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2017.01.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘劲松 上海理工大学机械工程学院 17 33 4.0 5.0
5 王鹤 3 6 2.0 2.0
6 闫雷 上海理工大学机械工程学院 1 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
BGA封装
真空植球法
植球缺陷
植球压力
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子科技
月刊
1007-7820
61-1291/TN
大16开
西安电子科技大学
1987
chi
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