高频光电导衰减法测试硅单晶少子寿命的精密度分析

• 作者: 张园园 杨素心
• 来源期刊: 现代测量与实验室管理
• 学科: 工学
• 关键词: 太阳能级多晶硅 少子寿命 准确性 重复性 再现性
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 计量测试
• 页码范围: 9-13
• 页数: 5页
• 分类号: TB973
• 字数: 2221字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16428/j.cnki.cn10-1469/tb.2017.02.003

摘要

为验证少子寿命是否可做为太阳能级多晶硅级别判定的技术指标,将原生多晶硅区熔为硅单晶后,15家光伏实验室采用高频光电导法测试少子寿命.分别对硅单晶的表面和端面进行测试,分析两者重复性的差异,确定少子寿命取值已表面测试为准.采用Z比分数法对数据进行重复性检验、u值检验法进行准确性分析、 χ2检验法进行再现性分析,最终得出少子寿命可作为多晶判级依据的结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨素心		2	0	0.0	0.0
2	张园园		4	3	1.0	1.0