面向终端芯片性能测试技术研究

• 作者: 李雷 郑洋
• 来源期刊: 电信网技术
• 关键词: 性能测试 终端和芯片 模拟外场
• 年，卷（期）: 2017,（12）
• 所属期刊栏目: 专家视点
• 页码范围: 57-61
• 页数: 5页
• 字数: 4138字
• 语种: 中文

摘要

介绍了当前业内流行的几种性能测试方法,并着重展示了一种新颖的模拟外场路测(VDT)方法.通过在VDT系统中模拟并重现典型外场环境,如高铁、弱覆盖等,建立完善的场景库,可以更加全面地考察终端在外场环境下的性能表现,贴近用户实际感知,具有良好的发展前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李雷	中国信息通信研究院技术与标准研究所	4	10	2.0	3.0
2	郑洋	中国信息通信研究院技术与标准研究所	2	6	1.0	2.0