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摘要:
伴随着高密度电子组装技术的发展,BGA (Ball Grid Array)成为高密度、高性能、多功能及高I/O数封装的最佳选择.对BGA器件筛选过程中出现的不良案例发生的原因进行了分析.根据异常情况提出了BGA器件筛选过程中的控制措施,包括来料把关、过程控制和质量控制(规范化)等,以保证BGA器件在后期筛选过程中的可靠性.重点对BGA器件在筛选过程中的现场控制、焊球防护及管理方面进行了阐述.
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文献信息
篇名 BGA器件筛选过程中的焊球问题及防护措施
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 BGA器件 质量控制 防护
年,卷(期) 2017,(10) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 6-8,16
页数 4页 分类号 TN305.94
字数 2969字 语种 中文
DOI
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王瑜 中国电子科技集团公司第五十八研究所 17 61 4.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
BGA器件
质量控制
防护
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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9543
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