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BGA器件筛选过程中的焊球问题及防护措施
BGA器件筛选过程中的焊球问题及防护措施
作者:
王瑜
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
BGA器件
质量控制
防护
摘要:
伴随着高密度电子组装技术的发展,BGA (Ball Grid Array)成为高密度、高性能、多功能及高I/O数封装的最佳选择.对BGA器件筛选过程中出现的不良案例发生的原因进行了分析.根据异常情况提出了BGA器件筛选过程中的控制措施,包括来料把关、过程控制和质量控制(规范化)等,以保证BGA器件在后期筛选过程中的可靠性.重点对BGA器件在筛选过程中的现场控制、焊球防护及管理方面进行了阐述.
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文献信息
篇名
BGA器件筛选过程中的焊球问题及防护措施
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
BGA器件
质量控制
防护
年,卷(期)
2017,(10)
所属期刊栏目
封装、组装与测试
研究方向
页码范围
6-8,16
页数
4页
分类号
TN305.94
字数
2969字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王瑜
中国电子科技集团公司第五十八研究所
17
61
4.0
7.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
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研究主题发展历程
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BGA器件
质量控制
防护
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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