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摘要:
针对钐元素的K荧光能谱进行研究分析,利用MCNP程序模拟荧光装置,计算得到荧光产额及荧光纯度随辐射体氧化钐(Sm2 O3)厚度和次级过滤材料氧化铈(CeO2)厚度的变化关系:Sm2O3厚度为0.4 mm时,K荧光产额达到饱和;CeO2为0.55 mm时,Ka荧光纯度达到最大值96.6%;实验显示,X光机管电压越大,荧光产额越大;管电压为80 kV时,荧光纯度达到最高82.3%.
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文献信息
篇名 钐元素Ka荧光能谱及荧光产额的研究
来源期刊 计量学报 学科 工学
关键词 计量学 K荧光 K吸收限 蒙特卡洛模拟
年,卷(期) 2017,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 786-789
页数 4页 分类号 TB98
字数 2434字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-1158.2017.06.28
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴金杰 68 186 7.0 9.0
2 李婷 30 87 6.0 8.0
4 左国平 35 88 6.0 7.0
7 霍彬彬 5 3 1.0 1.0
11 陈成 6 19 3.0 4.0
15 张帅 23 31 2.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
计量学
K荧光
K吸收限
蒙特卡洛模拟
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