采用比表面积和孔径分析仪测量纳米颗粒粒径

• 作者: 胡林彦
• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: 纳米颗粒 粒径测量 比表面积 孔径分析仪
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 所属期刊栏目: 颗粒测试与表征
• 页码范围: 39-42
• 页数: 4页
• 分类号: TB302.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.13732/j.issn.1008-5548.2017.04.008

摘要

采用比表面积和孔径分析仪,利用颗粒堆积产生的孔隙大小与颗粒粒径之间存在的几何关系,通过测量纳米颗粒堆积产生的孔隙尺寸,实现了纳米颗粒粒径的测量.结果表明,对于粒径在30～70 nm的纳米颗粒,颗粒堆积产生的介孔尺寸与颗粒粒径之间存在良好的线性关系,通过工作曲线可快速获得粒径数值.尤其对于粒径小于100 nm的干燥颗粒,该方法具有良好的适用性,测量分辨率可达0.2 nm,测量结果具有统计意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡林彦	中国科学院大连化学物理研究所	5	61	3.0	5.0