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摘要:
提出了一种基于数据驱动的集成电路故障预测与健康管理(PHM)模型,该模型基于反向传播(BP)神经网络算法,避免了对集成电路老化失效物理机理的依赖,能有效拟合集成电路失效的非线性函数关系.以已编程应用设计的FPGA为目标器件,通过实验提取参数样本进行模型训练,并将模型应用于实测验证.结果表明,该模型输出结果与实测结果吻合良好,能有效满足集成电路故障预测与健康管理的实际应用.
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文献信息
篇名 一种基于BP神经网络的集成电路PHM模型
来源期刊 计算机工程与科学 学科 工学
关键词 集成电路 BP神经网络 PHM模型
年,卷(期) 2017,(1) 所属期刊栏目 高性能计算
研究方向 页码范围 55-60
页数 6页 分类号 TN406
字数 4509字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-130X.2017.01.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 阮爱武 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 16 110 6.0 10.0
2 李平 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 144 1645 22.0 36.0
3 杜涛 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 11 31 4.0 5.0
4 汪鹏 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 1 8 1.0 1.0
5 李永亮 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 1 8 1.0 1.0
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节点文献
集成电路
BP神经网络
PHM模型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
计算机工程与科学
月刊
1007-130X
43-1258/TP
大16开
湖南省长沙市开福区德雅路109号国防科技大学计算机学院
42-153
1973
chi
出版文献量(篇)
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