基于磁压等效双二维模型的绕组损耗仿真

• 作者: 徐祥旺 陈为
• 来源期刊: 电气开关
• 学科: 工学
• 关键词: 绕组损耗 有限元仿真 双二维模型 磁压等效
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 设计与研究
• 页码范围: 34-38
• 页数: 5页
• 分类号: TM76
• 字数: 2420字
• 语种: 中文

摘要

绕组损耗的研究手段主要有理论分析、仿真分析和实测,其中最适合于应用在产品设计和优化阶段的是仿真分析.当下有限元仿真的现状是三维仿真内存要求过高,耗时过长,而作为替代的单二维模型仿真精度不够,所以本文提出双二维模型以规避它们的缺陷.而双二维模型能被正确创建的先决条件是其气隙磁压要与实际磁件的气隙磁压相等,也就是需要磁压等效.本文采用气隙处添加补偿电流或直接用该补偿电流安匝磁动势代替气隙磁压的方式进行磁压等效.最后通过对各模型的绕组损耗仿真证明了磁压等效双二维模型的准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈为	福州大学电气工程与自动化学院	171	1274	19.0	31.0
2	徐祥旺	福州大学电气工程与自动化学院	3	2	1.0	1.0