X射线吸收精细结构在材料科学中的应用

• 作者: 姜政 张硕 李炯 汪丽华 王宇 马静远 魏向军 黄宇营
• 来源期刊: 中国材料进展
• 学科: 化学
• 关键词: 材料科学 同步辐射 XAFS 时间分辨的XAFS 原位XAFS
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 同步辐射专栏
• 页码范围: 188-194
• 页数: 7页
• 分类号: O657.3
• 字数: 7165字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7502/j.issn.1674-3962.2017.03.05

摘要

X射线吸收精细结构(XAFS)方法是随着同步辐射发展起来的独特技术,是研究材料局域原子结构和电子结构的一种重要方法.相比于X射线衍射,XAFS仅仅对于吸收原子周围局域结构敏感,样品可以是固体、液体甚至是气体.概述了XAFS的基本原理及几种常用的实验方法,结合上海光源的XAFS光束线站成果,介绍了近年来不同XAFS方法在催化、能源、纳米和半导体等材料科学热门研究领域的最新进展,展示了目前XAFS方法在材料科学研究中所发挥的重要作用.最后根据国内同步辐射光源和相关XAFS研究方法的进一步发展,展望了XAFS技术在材料科学研究中的应用前景.