基于SRAM型FPGA可重构技术的故障注入系统设计

• 作者: 周国昌 巨艇 朱启 王健 赖晓玲
• 来源期刊: 空间电子技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: SRAM型FPGA 单粒子翻转 故障注入
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 通信与导航
• 页码范围: 22-26
• 页数: 5页
• 分类号: V474
• 字数: 2912字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-7135.2017.05.005

摘要

空间辐射环境会导致SRAM型FPGA发生单粒子翻转问题,空间应用需要采取缓解单粒子翻转的加固措施,而加固措施的有效性需要在地面进行重离子辐照试验评估,但试验周期长、成本高,且具有破坏性.基于SRAM型FPGA的动态可重构特性,在研究FPGA配置存储器结构及配置结构的基础上,通过修改配置存储区数据,形成了基于数据库回放的故障注入系统来模拟FPGA的SEU效应,从而加速系统的失效过程.对比辐照试验结果表明,此方法成本低、设计灵活,为SRAM型FPGA抗单粒子容错设计提供了有利支持.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周国昌		20	50	4.0	5.0
2	赖晓玲		16	29	3.0	4.0
3	朱启		8	18	2.0	3.0
4	巨艇		13	34	3.0	4.0
5	王健		9	24	2.0	4.0