内连导线线宽对沿晶微裂纹演化的影响

• 作者: 杜杰锋 黄佩珍
• 来源期刊: 南京航空航天大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 沿晶微裂纹演化 内连导线 应力迁移 线宽 有限单元法
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 页码范围: 518-523
• 页数: 6页
• 分类号: TG113
• 字数: 3438字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16356/j.1005-2615.2017.04.010

摘要

基于应力诱发表面扩散的经典理论,用有限元法模拟了线宽对铜内连导线中沿晶微裂纹演化的影响.数值模拟结果表明:随着线宽的减小,椭圆形沿晶微裂纹存在分节与不分节两种演化分叉趋势,且演化分节存在临界线宽(h)c;当(h)≤(h)c时,沿晶微裂纹分节成3个新的沿晶微裂纹;当(h)＞(h)c时,沿晶微裂纹圆柱化.沿晶微裂纹分节时间(t)f随线宽的减小而减小,即减小线宽会加速微裂纹分节.临界外载(σ)c与临界形态比βc随线宽的减小而减小,即减小线宽有利于沿晶微裂纹分节.临界外载和临界形态比随晶界能与表面能比值的增大而减小,且沿晶微裂纹比晶内微裂纹更易发生分节.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄佩珍	南京航空航天大学机械结构力学及控制国家重点实验室	23	94	4.0	9.0
2	杜杰锋	南京航空航天大学机械结构力学及控制国家重点实验室	4	5	1.0	2.0