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应用于高压接口电路的SCR ESD保护研究
应用于高压接口电路的SCR ESD保护研究
作者:
曹燕杰
王燕婷
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
SCR
BCD
闩锁
ESD
摘要:
SCR是ESD保护器件中最具有面积优势的一种.提出一种应用于高压接口电路的SCR ESD保护结构,同时避免了发生闩锁的风险.采用0.5 μm BCD工艺设计,可达8000V人体模型ESD能力,其维持电压可以达到28V以上.
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文献信息
篇名
应用于高压接口电路的SCR ESD保护研究
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
SCR
BCD
闩锁
ESD
年,卷(期)
2017,(11)
所属期刊栏目
电路设计
研究方向
页码范围
30-32
页数
3页
分类号
TN303
字数
1091字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
曹燕杰
中国电子科技集团公司第五十八研究所
2
1
1.0
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2
王燕婷
中国电子科技集团公司第五十八研究所
3
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2017(0)
参考文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
SCR
BCD
闩锁
ESD
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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