基于Nand Flash的BCH校验方法设计与实现

• 作者: 单彦虎 武慧军 焦新泉 秦菲
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: BCH校验 并行编码 分块译码 FPGA 可靠性
• 年，卷（期）: 2017,（22）
• 所属期刊栏目: 测量与控制
• 页码范围: 59-64
• 页数: 6页
• 分类号: TM93
• 字数: 2607字
• 语种: 中文

摘要

针对传统汉明码ECC校验方法纠错能力差的特点,结合Nand Flash 闪存内部组织结构,提出一种(4200, 4096,8)的BCH码 ECC校验方法.该方法采用并行编码方式,且对占用逻辑资源最多的译码器部分采用并行流水线分块译码,极大的提升了编译码效率.以FPGA为验证平台,通过大量数据读写表明,该方法大大提高了存储可靠性,为目前大容量存储提供了参考,具有较高的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	焦新泉	中北大学电子测试技术国家重点实验室	67	229	8.0	11.0
2	单彦虎	中北大学电子测试技术国家重点实验室	34	116	6.0	8.0
3	武慧军	中北大学电子测试技术国家重点实验室	7	15	2.0	3.0
4	秦菲	中北大学电子测试技术国家重点实验室	3	13	2.0	3.0