原文服务方: 中国粉体技术       
摘要:
为探讨动态光散射法粒径测量结果的不确定度来源及其对测量结果的影响程度,选取2种不同粒径的二氧化硅(标称粒径分别为20、80 nm)混合体系为研究对象,利用动态光散射法测量混合体系中颗粒的粒径,对其不确定度来源进行分析,依据不确定度评定方法对测量结果进行不确定度评定.结果表明:2种颗粒的粒径测量平均值分别为17.80、88.43 nm,测量结果可表示为(17.80±1.02)、(88.43±2.48)nm;衰减率、温度、散射角、黏度、重复性测量等均为测量结果的不确定度来源,其中重复性测量是主要来源.
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文献信息
篇名 动态光散射法测量二氧化硅粒径的不确定度评定
来源期刊 中国粉体技术 学科
关键词 动态光散射 纳米二氧化硅 粒径 不确定度
年,卷(期) 2017,(1) 所属期刊栏目 颗粒测试与表征
研究方向 页码范围 53-56
页数 4页 分类号 O657.3
字数 语种 中文
DOI 10.13732/j.issn.1008-5548.2017.01.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邹涛 14 33 3.0 5.0
2 张涛 5 23 2.0 4.0
3 王小飞 3 18 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
动态光散射
纳米二氧化硅
粒径
不确定度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国粉体技术
双月刊
1008-5548
37-1316/TU
大16开
济南市市中区南辛庄西路336号
1995-01-01
中文
出版文献量(篇)
2541
总下载数(次)
0
总被引数(次)
17572
论文1v1指导