LDO芯片CP通用测试方法研究

• 作者: 唐彩彬 张凯虹
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: LDO CTA8280 CP 熔丝
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 15-18
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2344字
• 语种: 中文

摘要

介绍了LDO(线性稳压器)的通用测试方法.基于长川CTA8280测试系统,通过对芯片CP(圆测试)要求进行分析,设计了某款LDO芯片的测试外围,实现了对该LDO芯片功能与性能的测试.该方案能够作为通用测试方法供LDO芯片测试设计参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张凯虹	中国电子科技集团公司第五十八研究所	20	27	3.0	4.0
2	唐彩彬	中国电子科技集团公司第五十八研究所	3	3	1.0	1.0