基于SEM图像的自动对焦技术

• 作者: 宗明成 韩邦强
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 自动对焦 评价函数 扫描电子显微镜(SEM) 感兴趣区域(ROI) 显著区
• 年，卷（期）: 2017,（8）
• 所属期刊栏目: 加工、测量与设备
• 页码范围: 547-552
• 页数: 6页
• 分类号: TN307
• 语种: 中文
• DOI: 10.13250/j.cnki.wndz.2017.08.007

摘要

针对扫描电子显微镜(SEM)自动对焦技术对噪声敏感,计算量大,从而影响SEM自动对焦的准确性和实时性,提出一种基于SEM图像的自动对焦技术.该技术采用基于拉普拉斯高斯算子和局部方差相结合的对焦评价函数FGLOG描述SEM的对焦状态;采用显著区提取和凸包法相结合的方法,自动提取SEM图像感兴趣区域(ROI).实验结果表明,与5种典型的对焦评价函数对比,提出的对焦评价函数FGLoG可以有效抑制噪声.在较少幅的帧平均情况下,仍然可以正常工作,可以提高自动对焦效率.针对不同的IC图形,采用ROI选取技术可以改善对焦评价函数曲线的灵敏度.尤其针对IC孤立线条,灵敏度得到有效提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩邦强	中国科学院微电子研究所	1	0	0.0	0.0
5	宗明成	中国科学院微电子研究所	4	0	0.0	0.0