基于电阻率成像技术的基坑渗漏探测方法

• 作者: 丁月双 廖智 殷亚斌 蔡克俭
• 来源期刊: 物探化探计算技术
• 学科: 地球科学
• 关键词: 基坑渗漏 电阻率成像 地下水 流线
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 重·磁·电勘探
• 页码范围: 736-741
• 页数: 6页
• 分类号: P631.3
• 字数: 3266字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1749.2017.06.04

摘要

随着城市建设的不断发展和进步,地下工程规模越来越大,各种超大超深基坑不断出现,特别是在软土和地下水丰富、水位较高地区,由于基坑工程的渗漏问题导致的工程事故时有发生.基坑渗漏是基坑止水帷幕施工中常见的一种施工缺陷,所以预先对基坑围护体系的渗漏情况进行探测,若发现有渗漏区域在开挖之前及时进行处理与预防就显得尤为必要.这里阐述基坑围护体系发生渗漏时,基坑周围地下水流线的变化特征,流线向渗漏处聚集,渗流位置的水流线密集区域渗流阻力小,导致基坑周围土体的渗漏处电阻率变低.给出了基于电阻率成像技术,通过探测基坑周围土体在基坑降水前后的电阻率变化,进行基坑渗漏探测的方法,并通过两个工程实例说明该方法能探测出基坑渗漏三维位置,探测结果客观准确.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁月双		9	22	3.0	4.0
2	蔡克俭		7	37	3.0	6.0
3	殷亚斌		8	6	1.0	2.0
4	廖智		6	43	3.0	6.0